內(nèi)容編輯

51     試驗方法

對于免提耳機中的單耳機頭（earphone）的測試方法（包括測試條件和測試設備及測試參數(shù)）可以參照GB 6832-1986。

對于免提耳機中的麥克風的測試方法（包括測試條件和測試設備以及測試參數(shù)）可以參照GB 9401-1988以及GB 14198-1993的內(nèi)容。

5.11.1        試驗條件

符合國標GB_6832_1986中的3.1～3.9中的要求。

如果無特殊規(guī)定，免提耳機的性能測試一般應該在下列條件下進行。

    環(huán)境溫度：+15℃～+35℃；

    相對濕度：45%-75%；

    大氣壓力：（86-106）kPa；

1.2         試驗內(nèi)容

1.2.1          外觀實驗

目測、手感覺免提耳機，應該滿足本技術(shù)要求中的4.7外觀的技術(shù)要求。

用相應精度的量具測量，應該滿足本技術(shù)要求中的4.8中的免提耳機的導線要求。

1.2.2          連續(xù)工作時間

手機使用免提耳機功能，進行正常通話，耳機和麥克風的性能指標滿足本技術(shù)要求的前提下，免提耳機連續(xù)工作時間應符合本技術(shù)要求中的4.3.1。

1.2.3          免提耳機中的耳機（earphone）的頻率范圍

按照GB 6832-1986中的第4.9條：額定頻率范圍。

1.2.4          免提耳機中的單耳機（earphone）的頻率響應

按照GB 6832-1986中的第4.8.2條: 自由場比較法頻率響應。